저온이 본질 안전 “i” 타입 방폭 램프에 미치는 영향

20°C 이하의 주변 온도는 방폭형 장비에 영향을 미칠 수 있으므로 장비 평가 및 테스트 시 이를 고려해야 합니다.

본질 안전 장비의 경우 저온에서는 안전 장벽과 같은 본질 안전 장비에 사용되는 구성 요소의 성능 특성과 동적 본질 안전 구성 요소가 있는 스파크 제한 전원 공급 장치가 변경됩니다. 구성 요소를 선택할 때는 이러한 변경 사항을 고려해야 하며, 제조업체에서 지정한 작동 온도를 사용하여 해당 “본질 안전 ‘i’ 보호 장비”의 요구 사항에 따라 평가를 수행해야 합니다. 이 정격 값은 필요한 본질 안전 기능을 제공하기 위해 본질 안전 성능에 영향을 미치는 반도체 부품의 작동 변화를 고려해야 합니다.

이러한 시스템에 사용되는 동적 본질 안전 부품이 포함된 전원 공급 장치의 본질 안전 성능은 적용 현장의 주변 온도에 따라 달라집니다. 저온에서는 본질 안전 전원 공급 장치의 동적 반도체 구성 요소의 감도가 감소하고 스위칭 시간이 증가합니다. 해당 규정에서는 스파크 점화 테스트는 점화 가능성이 가장 높은 회로 배열에서 수행해야 한다고 규정하고 있습니다. 그러나 실제로는 일반적으로 실험실 온도에서 테스트를 수행합니다.

따라서 저온 영역에서 동적 특성을 갖는 본질 안전 보호 전원 공급 장치를 사용하는 시스템의 경우, 동적 반도체 부품의 최저 온도를 포함하여 적용 범위 내의 온도에서 그리고 스파크 테스트 장치가 최고 작동 온도에서 적절한 부하에 연결된 조건에서 본질 안전 성능을 테스트해야 합니다. 주변 온도 -40℃ 이하에서 본질적으로 안전한 보호 기능을 제공하는 반도체 부품은 특수 가열 시스템이 필요할 수 있습니다. 추운 해양 기후에서 사용되는 장비의 경우, 장비가 해당 연면 거리 및 절연 재료의 CTI(비교 추적 지수)를 준수하더라도 인쇄 회로 기판 표면의 염화물 침전물이 추적을 유발하지 않도록 하기 위해 IP54보다 높은 보호 등급이 필요할 수 있습니다.