L'impatto della bassa temperatura sulle lampade antideflagranti a sicurezza intrinseca di tipo “i”

Le temperature ambientali inferiori a -20 ℃ possono influire sul tipo di protezione antideflagrante dell'apparecchiatura e devono essere prese in considerazione durante la valutazione e il collaudo dell'apparecchiatura.

Per le apparecchiature a sicurezza intrinseca, a basse temperature cambiano le caratteristiche prestazionali dei componenti utilizzati nelle apparecchiature a sicurezza intrinseca, come le barriere di sicurezza e gli alimentatori a scintilla limitata con componenti dinamici a sicurezza intrinseca. Quando si scelgono i componenti, si deve tenere conto di queste variazioni e la valutazione deve essere condotta in conformità ai requisiti della corrispondente “Apparecchiatura a sicurezza intrinseca ‘i’ protetta”, utilizzando la temperatura di esercizio specificata dal produttore. Questo valore nominale deve tenere conto dei cambiamenti nel funzionamento dei componenti a semiconduttore che influenzano le prestazioni a sicurezza intrinseca per fornire la funzione a sicurezza intrinseca richiesta.

Le prestazioni di sicurezza intrinseca dell'alimentatore con componenti dinamici a sicurezza intrinseca utilizzato in tali sistemi dipendono dalla temperatura ambiente del sito di applicazione. A basse temperature, la sensibilità dei componenti dinamici a semiconduttore dell'alimentatore a sicurezza intrinseca diminuisce e il tempo di commutazione aumenta. Le norme in materia stabiliscono che il test di accensione a scintilla deve essere condotto nella disposizione del circuito più soggetta all'accensione. Tuttavia, nella pratica, i test vengono solitamente eseguiti a temperature di laboratorio.

Pertanto, per i sistemi con alimentatori a sicurezza intrinseca di natura dinamica in aree che comportano basse temperature, le prestazioni a sicurezza intrinseca devono essere testate alle temperature comprese nell'intervallo di applicazione, inclusa la temperatura più bassa dei componenti dinamici a semiconduttore, e a condizione che il dispositivo di prova delle scintille sia collegato a un carico appropriato alla temperatura operativa più elevata. I componenti a semiconduttore che offrono una protezione a sicurezza intrinseca a una temperatura ambiente inferiore a -40 ℃ possono richiedere sistemi di riscaldamento speciali. Per le apparecchiature utilizzate in climi marini freddi, sebbene l'apparecchiatura sia conforme alla distanza di dispersione e all'indice di tracciamento comparativo (CTI) dei materiali isolanti, potrebbe essere necessario un livello di protezione superiore a IP54 per garantire che i depositi di cloruro sulla superficie dei circuiti stampati non causino tracciamento.